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【SGS免費線上研討會邀請】敬邀10/26 半導體功能安全 - SEooC開發及失效率分析研討會

【SGS免費線上研討會邀請】敬邀10/26 半導體功能安全 - SEooC開發及失效率分析研討會
 
SGS台灣可靠度實驗室功能安全團隊將於2020年10月26日與SGS日本團隊共同舉辦半導體功能安全 - SEooC開發及失效率分析研討會,旨在研討半導體市場趨勢,半導體廠商如何透過SEooC 開發流程制訂出符合之安全規格,並透過失效率預估來以因應OEM廠之需求。註冊參加網路研討會,在辦公室或家裡只要能上網就可跟著台灣及日本功能安全專家一探究竟,產業升級看這裡,活動詳情與報名請點選下圖,報名註冊後系統將自動發送研討會連結給您。
 
※提醒:須以公司電子信箱報名註冊,若欲以個人信箱(如:Gmail,Yahoo etc.)註冊報名者,請詳信件結尾之聯絡方式、提前與我們聯繫,感謝您的配合。
 
 
活動詳情與報名連結請點此圖↓
 
Location請選Global
SGS台灣可靠度實驗室功能安全團隊,誠摯邀請您參加,謝謝!
 
 
線上免費研討會| 2020/10/26
Taipei Local Time 10:00 AM
 
半導體功能安全 - SEooC開發及失效率分析
Functional safety in semiconductor - SEooC development and failure rate analysis
 
Background:背景
在現階段車用領域方面,車輛控制系統電子化已成為汽車發展之趨勢,在電子系統越來越多,越來越複雜的情況下,車輛安全控制系統也逐漸朝向自動化及高科技化,因此關鍵安全系統及資訊安全的設計議題在汽車領域已慢慢被重視。藉由汽車領域之國際功能安全規範ISO-26262及資安標準ISO/SAE21434的發怖,透過嚴謹的風險評估及V模型設計觀念使其安全需求等級提出一致性的分析結果,統籌電子系統整個生命週期所需考慮到避免及控制失效的技術與管理要求,最後透過定性與定量之安全設計機制與技術驗證(Verification)及確認(Validation)規範,以符合達到功能安全及資訊安全規範等級。
 
Agenda: 議程
Topic 1 (English) Functional safety market trend in semiconductor
  • How to assume top hazard, SG, FSR, TSR against target system
  • How to derive and determine IC’s or IP’s functional safety requirements(HSR) based on assumptions
  • Q&A
Topic 2 (Chinese)如何透過失效率手冊查詢半討體元件失效率
  • IEC 61709 介紹
  • 可靠度預估手法
  • Q&A
 
需要進一步的資訊,請聯絡SGS可靠度實驗室功能安全團隊:
  • Betty Yang: Betty.Yang@sgs.com      分機:3660
  • Cindy Hung:Cindy.Hung@sgs.com   分機:3661