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《轉貼文章》備齊完整測試方案 安捷倫壓境LTE-Advanced

2012/2/6 黃耀瑋// 安捷倫(Agilent)先進長程演進計畫(LTE-Advanced)量測方案。LTE-Advanced標準可望於2012下半年臻至完備,激勵電信、晶片及終端產品開發商紛紛為日後更加艱鉅的實體層量測展開部署。為滿足此一需求,安捷倫將以軟體、訊號分析儀,以及PXI模組化解決方案三管齊下,助力相關服務及產品快速上市。 台灣安捷倫電子量測事業群應用工程部協理陳俊宇表示,由於LTE-Advanced可與大部分LTE網通設備相容互通,再加上今年下半年其標準將更形完備,因而吸引廠商競相投入開發,可預見2012年全球行動通訊大會(MWC)也將成為晶片、網通設備業者大秀LTE-Advanced產品研發進展的舞台。 據了解,LTE-Advanced可望在下半年標準及晶片端進展初具雛形後,於2013~2014年正式起飛,目前全球通訊晶片大廠均已啟動LTE-Advanced數據機(Modem)晶片設計案,其中,又以高通(Qualcomm)的進展較快,已開始進行相關產品測試。 不過,LTE-Advanced因加入載波聚合(Carrier Aggregation)及多重存取(Multiple Access)概念,且多重輸入多重輸出(MIMO)天線也增加至8×8,墊高終端產品的實體層訊號測試難度。尤其,LTE-Advanced為讓下行(DL)傳輸速率跨越1Gbit/s的分水嶺,真正落實國際電信聯盟(ITU)對4G行動通訊的規範,最多須整併五個散落於頻譜上的20Mhz頻段,將是首要的量測關卡。 對此,台灣安捷倫電子量測事業群應用工程部資深專案經理張式先指出,安捷倫旗下89600VSA系列向量訊號分析軟體,與可一次覆蓋100MHz頻段的M9030A PXA訊號分析儀,以及頻段支援達250MHz的M9392A PXI模組化測試儀器,將可解決LTE-Advanced應用頻寬倍增至40~100MHz的測試難題。 張式先分析,載波聚合固然可滿足大量資料處理需求,但相對對量測儀器的頻段覆蓋能力,以及射頻(RF)雜訊、通道干擾檢測的功能要求更為嚴苛。而安捷倫藉由積極參與標準組織,建議一系列從產品設計、驗證,到電信服務的規範,並將其導入自家產品功能,從而提供全球現有最完整的LTE-Advanced載波聚合量測解決方案。 除能精準掌握載波聚合特性外,安捷倫也透過N7109A PXI多通道訊號分析系統及89601B VSA軟體,升級支援8×8 MIMO天線,可同步測試八個通道,省卻客戶分次量測的時間。此外,搭配SystemVue W1918基頻驗證軟體,亦可模擬LTE-Advanced訊號,有助業者優化MIMO設計空間配置,並檢視訊號接收表現。 根據全球行動通訊供應商協會(GSA)發布的資料顯示,截至2012年1月初全球已有四十九家電信業者啟動LTE商用服務,預估至今年底,將可增加到一百一十九家,為往後LTE-Advanced的發展奠定基礎。 // 轉貼來源:http://www.mem.com.tw/article_content.asp?sn=1202030012